绕组变形测试仪简介

绕组变形测试仪又称变压器绕组变形测试仪　

绕组变形测试仪 英文名字：Transformer Winding Deformation Tester.

绕组变形测试仪组成：

绕组变形测试仪由测量部分及分析软件部分组成，测量部分是由信号生成及信号测量组成的黑匣子，分析部分由笔记本电脑完成，测量部分与笔记本电脑通过有线或者无线以太网连接，也可以通过USB连接。

绕组变形测试仪技术指标

仪器自带一个通道DDS信号输出作为扫频的激励信号；信号输出为正弦波，信号输出幅度可以软件调节，最大幅度±5V，信号输出阻抗为50Ω

两个采集通道，一个采集激励信号，一个采集响应信号，用于计算传递函数

激励通道测量为固定量程：±5V；响应通道有 8档量程，在测量过程中自动调节量程，最大输入信号为±25V

采集通道量化精度：12位

采集通道最大静态误差：0.5%

每通道最大存储容量：64K样点

每通道最高采样率：20Msps

采集通道输入阻抗：1MΩ

扫频测量范围：1K－1MHz

扫描方式：采用线形分布的扫频测量方式

扫描频率精度：信号源输出正弦信号的频率精度不大于0.01%

扫频测量频点：1K－1MHz，测量点数1000点

采用Vittal原装机箱

符合国家电力行业标准：DL/T911-2004

绕组变形测试仪检测原理

在较高频率的电压作用下，变压器的每个绕组均可视为一个由线性电阻、电感（互感）、电容等分布参数构成的无源线性双口网络，其内部特性可通过传递函数H(jω)描述。若绕组发生变形，绕组内部的分布电感、电容等参数必然改变，导致其等效网络传递函数H(jω)的零点和极点发生变化，使网络的频率响应特性发生变化。

变压器绕组的幅频响应特性采频率扫描方式获得。连续改变外施正弦波激励源VS的频率f(角频率ω=2πf)，测量在不同频率下的响应端电压V2和激励端电压V1的信号幅值之比，获得指定激励端和响应端情况下绕组的幅频响应曲线。L、K及C分别代表绕组单位长度的分布电感、分布电容及对地分布电容，V1、V2分别为等效网络的激励端电压和响应端电压，VS为正弦波激励信号源电压，RS为信号源输出阻抗，R为匹配电阻。